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                    AG防眩層膜厚儀

                    更新時間:2023-07-17

                    簡要描述:

                    AG防眩層膜厚儀: 按照客戶需求搭建的防眩薄膜厚度特性表征工具。
                    AG防眩層膜厚儀 是一個模塊化和可擴展平臺的光學測量設備,可用于表征厚度范圍為1nm-1mm 的防眩膜層。
                    AG防眩層膜厚儀 是為客戶量身定制的,并廣泛應用于各種不同的應用。
                    比如:
                    吸收率/透射率/反射率測量,薄膜特性在溫度和環境控制下甚至在液體環境下的表征等等…

                    訪問次數:1292廠商性質:代理商

                    1. 產品概述

                    AG防眩層膜厚儀: 按照客戶需求搭建的防眩薄膜厚度特性表征工具。

                    AG防眩層膜厚儀 是一個模塊化和可擴展平臺的光學測量設備,可用于表征厚度范圍為1nm-1mm 的防眩膜層。

                    AG防眩層膜厚儀 是為客戶量身定制的,并廣泛應用于各種不同的應用。

                    比如:

                    吸收率/透射率/反射率測量,薄膜特性在溫度和環境控制下甚至在液體環境下的表征等等

                    2. AG防眩層膜厚儀應用

                    大學&研究實驗室、半導體行業、高分子聚合物&阻抗表征、電介質特性表征、

                    生物醫學、硬涂層,陽極氧化,金屬零件加工、、光學鍍膜、非金屬薄膜等等…

                    AG防眩層膜厚儀可由用戶按需選擇裝配模塊,核心部件包括光源,光譜儀(適用于 200nm-2500nm 內的任何光譜系統)和控制單元,電子通訊模塊。

                    通過不同模塊組合,蕞終的配置可以滿足任何終端用戶的需求。

                    3. 膜厚儀規格(Specificatins


                    Model

                    UV/Vis

                    UV/NIR -EXT

                    UV/NIR-HR

                    D UV/NIR

                    VIS/NIR

                    D Vis/NIR

                    NIR

                    光譜范圍  (nm)

                    200 – 850

                    200 –1020

                    200-1100

                    200 – 1700

                    370 –1020

                    370 – 1700

                    900 – 1700

                    像素

                    3648

                    3648

                    3648

                    3648 & 512

                    3648

                    3648 & 512

                    512

                    厚度范圍

                    1nm – 80um

                    3nm – 80um

                    1nm – 120um

                    1nm – 250um

                    12nm – 100um

                    12nm – 250um

                    50nm – 250um

                    測量n*k 蕞小范圍

                    50nm

                    50nm

                    50nm

                    50nm

                    100nm

                    100nm

                    500nm

                    準確度*,**

                    1nm or 0.2%

                    1nm or 0.2%

                    1nm or 0.2%

                    1nm or 0.2%

                    1nm or 0.2%

                    2nm or 0.2%

                    3nm or 0.4%

                    精度*,**

                    0.02nm

                    0.02nm

                    0.02nm

                    0.02nm

                    0.02nm

                    0.02nm

                    0.1nm

                    穩定性*,**

                    0.05nm

                    0.05nm

                    0.05nm

                    0.05nm

                    0.05nm

                    0.05nm

                    0.15nm

                    光源

                    氘燈 & 鎢鹵素燈(內置)

                    鎢鹵素燈(內置)

                    光斑 (直徑)



                    350um (更小光斑可根據要求選配)



                    材料數據庫




                    > 600 種不同材料




                    4. 膜厚儀配件


                    電腦

                    13~19 英寸屏幕的筆記本電腦/觸摸屏電腦

                    聚焦模塊

                    光學聚焦模塊安裝在反射探頭上,光斑尺寸<100um

                    薄膜/比色皿容器

                    在標準器皿中對薄膜或液體的透射率測量(選配)

                    接觸式探頭

                    用于涂層厚度測量和光學測量的配件,適用于彎曲表面和曲面樣品(選配)

                    顯微鏡

                    用于高橫向分辨率的反射率及厚度顯微測量(選配)

                    Scanner  (motorized)

                    帶有圓晶卡盤的PolarR-Θ)或 CartesianX-Y)自動化樣品臺可選,PolarR-Θ)樣品臺支持反射率測量,CartesianX-Y)樣品臺支持反射率和透射率測量(選配)

                    積分球

                    用于表征涂層和表面的鏡面反射和漫反射(選配)

                    手動 X-Y 樣品臺

                    測量面積為 100mmx100mm 200mmx200mm x - y 手動平臺(選配)

                    加熱模塊

                    嵌入FR-tool 中,范圍由室溫~200oC,通過FR-Monitor 運行可編程溫控器(0.1 oC 精度).(選配)

                    液體模塊

                    聚四氟乙烯容器,用于通過石英光學窗口測量在液體中的樣品。樣品夾具,用于將樣品插入可處理 30mmx30mm 樣品的液體中(選配)

                    流通池

                    液體中吸光率、微量熒光測量(選配)

                    5. 膜厚儀工作原理

                    白光反射光譜(WLRS)是測量垂直于樣品表面的某一波段的入射光,在經多層或單層薄膜反射后,經界面干涉產生的反射光譜可確定單層或多層薄膜(透明,半透明或全反射襯底)的厚度及 N*K 光學常數。

                    * 規格如有更改,恕不另行通知; ** 厚度測量范圍即代裱光譜范圍,是基于在高反射襯底折射率為 1.5 的單層膜測量厚度。



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